为什么需要品质检测
随着储存装置容量越做越大,使用的记忆体以TLC为主,且使用 INK DIE的数量增加,于是产生了许多有坏块的储存装置。
市面上所贩售的记忆卡或闪存装置品质落差大,容易造成资料毁损,或是读写速度上的差异..等。
一般检测的方法是透过电脑软体使用H2 test来检测储存装置,但电脑同时 检测越多装置时速度会越慢,效率低且耗时,EZ Dupe为此提供各种储存装置的品质检测,让您大幅提升检测效率。
完善的检测功能,保障您的产品品质
H3 读取检测
可保存原有资料
全面的读取检测,不做写入检测,可保存原有资料。执行时间最短,但只进行读取检测。
H5 读写检测
所有资料会被删除
全面的读写检测,先以乱数从sector0写入到最后一个sector,再从sector0做读取比对到最后
一个sector,最后并将合格的储存装置格式化。
H6 非使用空间读写检测
有效资料不会被删除
与H2具有相同的检测方式,只针对资料空白区做写入及读取检测。有效资料不会被删除。
H7 假装置容量检测
最严谨的检测方式
所有资料区先写入1次乱数后做比对,再写入乱数的相反值再做比对,确认所有资料区对资料0及1都可正常读写。所有资料会被删除。可检测出假容量的储存装置。
老化测试
针对储存装置做长时间的老化测试,测试产品的耐久及稳定性。 可选择执行功能及执行轮数。
实际容量检测
只要1秒钟,即可检测记忆卡/随身碟/储存装置的实际容量。
速度测试
可快速检测记忆卡/U盘/储存装置的读写速度。
在使用以上各种等级的检测功能时,可搭配以下参数的设定,以达到自动判断储存装置检测的结果。
检测装置范围设定
设定储存装置欲检测的范围,可设定百分比或容量大小。
如检测16GB的随身碟,可设定检测范围为10%,即检测前1.6GB的区域,若设定检测1GB,则会检测前1GB区域。
可容忍的坏块数量
设定在检测范围内,允许坏块的数量,若低于或等于设定值,则检测结果为成功,高于则为失败。
如设定允许坏块为1MB,检测结果坏块数为2MB,则为失败,若为0.5MB,则为成功。
最低的读写速度
分别设定写入及读取的最低速度,若高于或等于设定值,则检测结果为成功,低于则为失败。
如写入设定3MB/s,读取设定10MB/s,测试结果写入为2.5MB/s,读取12MB/s,则为失败,只要读或写其中一个低于设定值即为失败,二者皆高于设定值才判定成功。
储存装置的最低容量
每个储存装置的容量可能会因开卡结果,会有不同的实际容量。此功能在于快速确认容量是否达标。可设定最低容量,若高于或等于设定值,则检测结果为成功,低于则为失败。
如16GB U盘,设定最低允许容量为15.6GB,当检测结果为15GB,则为失败,若为15.8GB,则为成功。
完成后格式化的格式
检测结果为成功时,会依此设计来格式化储存装置,可设定自动、FAT16、FAT32、exFAT.
设定自动时,容量小于等于2GB,格式化为FAT16,容量介于2GB~32GB时,格式化为FAT32,大于32GB时则格式化为exFAT。